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        光學(xué)表面瑕疵檢測(cè)

        簡(jiǎn)要描述:QptLux SD是一款創(chuàng)新性的光學(xué)表面瑕疵檢測(cè),具備高重復(fù)性和準(zhǔn)確性,系統(tǒng)根據(jù)設(shè)定的檢驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成詳細(xì)的通過(guò)/失敗報(bào)告,與光學(xué)行業(yè)現(xiàn)在很多的具有很強(qiáng)主觀性的人工檢驗(yàn)以及其他手動(dòng)檢驗(yàn)設(shè)備相比,提供光學(xué)表面質(zhì)量控制性能,可以廣泛用于光學(xué)元件生產(chǎn)、出貨控制、進(jìn)料檢驗(yàn)等過(guò)程。

        • 產(chǎn)品型號(hào):Optlux SD
        • 廠商性質(zhì):代理商
        • 更新時(shí)間:2024-09-09
        • 訪  問(wèn)  量:1498

        詳細(xì)介紹

        光學(xué)表面瑕疵檢測(cè)特點(diǎn):   

        高重復(fù)性的表面缺陷檢測(cè)和表征

        對(duì)如下表面質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)估:

        - MIL-PRF-13830B

        - ISO 10110-7 可見性標(biāo)準(zhǔn) (含 ISO 14997)

        - ISO 10110-7 尺寸標(biāo)準(zhǔn) (含 ISO 14997)

        全自動(dòng)手動(dòng)檢測(cè)模式

        一個(gè)裝載周期內(nèi)多個(gè)零件的批量檢測(cè)

        零件預(yù)掃描和排除光圈設(shè)置

        帶有缺陷掃描的合格、失敗報(bào)告

        保存并加載物料

        光學(xué)表面瑕疵檢測(cè)檢測(cè)優(yōu)勢(shì) : 

        按照行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行檢測(cè)

        提供可追溯的檢測(cè)結(jié)果

        排除檢測(cè)主觀性

        縮減檢測(cè)時(shí)間

        避免過(guò)度檢測(cè)

        商業(yè)優(yōu)勢(shì)

        建立對(duì)產(chǎn)品表面質(zhì)量的信心

        增加產(chǎn)量

        實(shí)現(xiàn)并支持正在進(jìn)行的過(guò)程改進(jìn)

        將檢測(cè)能量擴(kuò)展到多有表面質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)





         

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