PCI共光路干涉弱吸收儀

簡要描述：PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理：Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波，從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應(yīng)，當(dāng)一束Probe beam(探測光)經(jīng)過熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時，探測光在該焦點處波前發(fā)生畸變引起點衍射共路干涉，并產(chǎn)生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理。

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更新時間：2024-09-10
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PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理：

PCI共光路干涉弱吸收儀

右圖，Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波，從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應(yīng)，當(dāng)一束Probe beam(探測光)經(jīng)過熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時，探測光在該焦點處波前發(fā)生畸變引起點衍射共路干涉，并產(chǎn)生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理，最后由軟件計算顯示出待測樣品的吸收值。

特點：

精度高: 1 ppm
一次測量可以區(qū)分體、面吸收
掃描速度快（幾分鐘）
對樣品規(guī)格要求不高
操作方便、簡單

應(yīng)用領(lǐng)域：

光學(xué)薄膜
光學(xué)晶體材料
光學(xué)鏡片

PCI共光路干涉弱吸收儀性能：

測量晶體（LBO、YVO4、KTP…）或光學(xué)產(chǎn)品（K9、BK7、UVFS…）內(nèi)部材料的弱吸收（體吸收）
測量晶體或光學(xué)產(chǎn)品的表面吸收或薄膜吸收
PCI 指標(biāo)說明

波長	常規(guī)355、532、1064nm，其它波長可定制
靈敏度	體吸收:1ppm/cm；面吸收:1ppm
樣品規(guī)格	方形、圓形均可最小尺寸（mm）：3x3x3；最大尺寸（mm）：50x50x50 其它尺寸可定制
測試速度	常規(guī)2min/片（相對6mm厚度）
區(qū)分體、面吸收	一次測量可以區(qū)分體、面吸收
軟件掃描功能	AbMat-1D: 一維逐點掃描 AbMat-2D: 二維吸收立體掃描
掃描方式	長度/面/時間掃描

1.光源	Probe光源 632nmHe-Ne 激光器（imported with original packaging） -最大功率：2mw -功率穩(wěn)定性：<0.1% -發(fā)散角：1.3mrad -偏振比：500:1 Pump光源 #1064nm 光纖激光器 -平均功率： 20W（CW） -光束質(zhì)量M2：<1.5 -功率穩(wěn)定性：＜2%(超過5 小時) -偏振：隨機 -制冷方式：風(fēng)冷 -偏振光系統(tǒng)
2.探測部分	imported with original packaging 含鎖相放大器、光斬波器、探測器、功率計、二維調(diào)整架等。
3.載物臺部分	imported with original packaging 含三維步進電機、樣品支架等
4.光學(xué)元件部分	反射鏡、透鏡、功率調(diào)節(jié)器等
5.軟件部分	實時數(shù)據(jù)采集，自動保存，數(shù)據(jù)分析等。一維逐點掃描二維吸收立體掃描
6.其它說明	建議設(shè)備安裝在超凈間環(huán)境；建議配UPS電源。