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          LID光熱偏轉技術弱吸收儀采用光熱偏轉技術，用于測量透明光學材料及鍍膜產品受到激光照射后產生的微弱吸收。在強激光照射下，材料內部由于吸收熱能產生折射率梯度現象（熱透鏡效應），當一束探測光經過“熱透鏡”效應區域時發生位置偏移，通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。
          

          

          

          訪問次數：1634
          

          產品價格：面議
          

          廠商性質：代理商
          

          更新日期：2022-09-27
          

          

          


          

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        傳真：010-68214292
        
                    
        郵箱：gloria.yang@opcrown.com
        
                    
        地址：北京市門頭溝區蓮石湖西路98號院7號樓1006室
        
                
        
            
        
            
        
        
        
    
        
    
        
    	
        
        	
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