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激光能量計是在一管狀金屬外殼中依次設(shè)有探測器、與該探測器電連接的放大器以及信號輸出單元，并且在外殼的激光入射口和探測器之間，設(shè)有一陶瓷空心腔，該陶瓷空心腔為封閉的空心柱體，柱體的軸向與激光進(jìn)入殼體方向平行。本發(fā)明由于在探測器前設(shè)計了漫射式空心柱面陶瓷腔作為衰減器，使激光經(jīng)過陶瓷衰減腔后出射的是均勻場，因而可以在該均勻場中的任一位置使用小尺寸探測器探測，同時可有效避免探測器的局部損傷問題，使本發(fā)明的激光能量計可用于高能量密度激光的測量。目前脈沖激光能量測量的難度和需求增加,能滿...

lumetrics測厚儀采用光學(xué)干涉原理，能夠非常準(zhǔn)確地測量各種材料的厚度，包括塑料、金屬、陶瓷等。測厚儀是一種用于測量物體表面薄膜或涂層厚度的儀器。它具有許多優(yōu)點(diǎn)。首先，它使用的光學(xué)干涉原理使得其測量精度非常高，可以達(dá)到亞微米級別。其次，它具有非常廣泛的適用范圍，可以用于測量各種材料和形狀的物體，包括平面、球體、圓柱體等。此外，lumetrics測厚儀還非常易于操作，用戶只需要將待測物體放入測量儀器中即可自動完成測量過程。除了以上優(yōu)點(diǎn)外，還具有許多其他的特點(diǎn)和功能。例如，它...

殘余應(yīng)力是指構(gòu)件在制造過程中，將受到來自各種工藝等因素的作用與影響；當(dāng)這些因素消失之后，若構(gòu)件所受到的上述作用與影響不能隨之而消失，仍有部分作用與影響殘留在構(gòu)件內(nèi)，則這種殘留的作用與影響稱為殘留應(yīng)力或殘余應(yīng)力。150AT應(yīng)力雙折射系統(tǒng)用于殘余應(yīng)力檢測。該應(yīng)力雙折射測顯系統(tǒng)既可作為實(shí)驗(yàn)室科研探索測量光學(xué)組件應(yīng)力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業(yè)生產(chǎn)中檢測產(chǎn)品應(yīng)力分布。產(chǎn)品軟件直觀顯示待測樣品應(yīng)力情況，便于操作和日常監(jiān)測。150AT應(yīng)力雙折...

Gentec-EO小巧便攜且方便使用的激光功率計和能量計PRONTO系列所提供產(chǎn)品十分小巧，可隨身攜帶。對于經(jīng)常四處奔波或常使用激光等設(shè)備的修理維修人員，此為一種切實(shí)可行的解決方案。這些產(chǎn)品堅硬牢固，可隨處處理并移動，無需擔(dān)心發(fā)生損壞。這種操作簡單的解決方案不需要任何知識，只需將激光束對準(zhǔn)光圈，并在設(shè)備屏幕上直接讀取功率或能量測量。得益于我們的免費(fèi)專屬軟件，您甚至可利用數(shù)據(jù)記錄功能，在您的計算機(jī)上分析數(shù)據(jù)。Gentec-EO方便的無線設(shè)備，可在移動設(shè)備或計算機(jī)上測量激光功率如...

光束質(zhì)量分析儀是一款符合標(biāo)準(zhǔn)的測量設(shè)備。測量過程中，固定的透鏡和高速的自動光學(xué)導(dǎo)軌使得相機(jī)可以快速的采集到從近場到遠(yuǎn)場多個位置的激光光斑，測量、傳輸以及激光功率衰減全部由軟件自動控制。在工作過程中造束腰透鏡和相機(jī)位置固定，通過兩片反光鏡在光學(xué)導(dǎo)軌上的自動移動，相機(jī)就可以的捕捉到從近場到遠(yuǎn)場不同位置的激光光斑，再通過軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)分析與計算，從而得到M2值、發(fā)散角、束腰大小等參數(shù)。光束質(zhì)量分析儀信噪比高，線性響應(yīng)度好。界面軟件可TCP/IP控制。通過庫套件可方便地應(yīng)用于各種場合。...

殘余應(yīng)力的測量方法可以分為有損和無損兩大類。有損測試方法就是應(yīng)力釋放法，也可以稱為機(jī)械的方法；無損方法就是物理的方法。機(jī)械方法用得多的是鉆孔法（盲孔法），其次還有針對一定對象的環(huán)芯法。物理方法中用得多的是X射線衍射法，其他主要物理方法還有中子衍射法、磁性法、超聲法以及壓痕應(yīng)變法。殘余應(yīng)力的檢測國內(nèi)外均已開展多年，其測定方法可分為機(jī)械測定法和物理測定法。機(jī)械測定法測定時須將局部分離或分割使應(yīng)力釋放，這就要對工件造成一定損傷甚至破壞，典型的有切槽法和鉆孔法，這方面技術(shù)成熟，理論完...