在硅太陽能電池板的生產過程中，硅晶體中的應力在制作過程中往往沒有被檢測到，我們描述了一種測量硅錠的應力雙折射檢測，它可以是方形的，也可以是生長的，然后被鋸成硅片，當這臺儀器被用作質量控制工具時，在后續加工成本發生之前，可以識別出低質量的硅錠或鋼錠。此外，該儀器還為硅晶體的生長提供了一種提高硅錠質量的工具，使其能夠生產出較薄的硅片，降低了機械產量損失。

Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統。該系統是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調制器（ PEM）基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統為該行業提供了分析和開發下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。

美國Hidns Instruemtns -LCD材料的超低階雙折射測量 在與眾多的光學材料制造商合作多年后，Hinds 儀器公司推出了Exicor 1500AT系統，用于測量大面積光學材料，如用于LCD（高達1500mm x 1500mm）的光學材料。 隨著液晶顯示器材料規格的成熟，專業化的系統已經成為行業所需要的。Hinds現在提供從GEN5到GEN

該系統利用PEM調制光束的偏振狀態、先進探測和解調電子來測量光學如何改變偏振狀態。這就導致了一個偏振狀態相對于另一個偏振狀態的光延遲測量結果是90°。利用這些數據可以對雙折射、快速軸向和理論殘余應力測量進行評估。在平板透鏡和己完成透鏡的研究和生產中， HindsInstruments和Exicor斜入射角技術被用于評估光學雙折射

150AT 應力雙折射系統是Hinds應力雙折射測量系統家族系列產品，用于殘余應力檢測。該應力雙折射測量系統既可作為實驗室科研探索測量光學組件應力分布測量，也可用作諸如玻璃面板，透鏡，晶體，單晶硅/多晶硅、注塑成品等工業生產中檢測產品應力分布。產品軟件直觀顯示待測樣品應力情況，便于操作和日常監測。

美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產價值的測量雙折射的能力。Exicor系統的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術的產品，該技術推出了超低雙折射光彈性調制器（PEM）。

光學玻璃應力測量占地小-大限度地減少設備所需的工廠空間；平臺設計-使可測量面積盡可能大；強大的自動化-質量階段和硬件正常運行時間。