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Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透鏡、平行面光學、曲面光學在正常和斜入角度評估的主要應力雙折射測量系統。該系統是建立在Hinds lnsrtuments 光彈調制器（ PEM）基于Exicor®雙折射測量技術。新一代的雙折射測量系統為該行業(yè)提供了分析和開發(fā)下一代光刻透鏡、透鏡毛坯和高價值精密光學的新能力。
雙折射（應力）測量系統 EXICOR-SYSTERMS，設計減去了光學系統中的移動部件，并避免了在測量角度之間切換。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM調制。
美國Hinds Instruments 的Exicor®雙折射測量技術于1999年推出，型號為150AT，為客戶提供技術，具生產價值的測量雙折射的能力。Exicor系統的高靈敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技術的產品，該技術推出了超低雙折射光彈性調制器（PEM）。
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